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當前位置：首頁產品中心德國Kleindiek微納操縱儀插件FMS-LS超微力測量裝置

超微力測量裝置
產品簡介：

德國kleindiek超微力測量系統是高精度微力測量測試系統，它與顯微操作器聯合使用,用于測量納米壓痕和超微力測量,還可用于測量細胞力學,楊氏模量,微機電系統MEMS的彈簧常數和共振頻率的彈性參數。

產品型號：FMS-LS

更新時間：2024-12-09

廠商性質：代理商

訪 問 量 ：2235

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產品介紹

這款超微力測量系統是高精度微力測量測試系統FMS-LS，它與顯微操作器聯合使用,用于測量納米壓痕和超微力測量,還可用于測量細胞力學,楊氏模量,微機電系統MEMS的彈簧常數和共振頻率的彈性參數。
超微力測量系統FMS-LS特點
超微力測量系統調節(jié)器連接附件，調節(jié)器顯示力反饋，并且在揚聲器上播放材料的諧振頻率。
由具有集成吸管夾持器的力傳感器，具有前置放大器和揚聲器的控制模塊，PC軟件，電源，和操作者的手冊組成。


超微力測量系統FMS-LS應用

  • 測量細胞，楊氏模量，微機電系統（MEMS）的彈簧常數和共振頻率的彈性參數

  • 納米壓痕

Kleindiek超微力測量系統FMS-LS參數

分辨率：亞μN，200 µN/mV @ Gain=1000, Ub=5V

100 mN (= 10g)


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